发明名称 一种叶片全尺寸快速检测的设备
摘要 一种叶片全尺寸快速检测的设备,旨在克服现有技术中的针对叶片进行的标准样板和接触式测量,存在测量时间长、人为误差大、效率低、无法获得更多的信息的缺点,提供一种叶片全尺寸快速检测的设备,包括由步进电机、高精密丝杆导轨和光学三维扫描测量头组成的测量组件、叶片支架、两轴转台和滑道,叶片支架包括:框式标志点支架和叶片夹具,框式标志点支架为一面开口的框形结构,框式标志点支架四周粘贴有标志点,叶片夹具位于框式标志点支架的两侧边框之间,框式标志点支架和叶片夹具分别和两轴转台的上表面固定连接,两轴转台既能在两轴方向旋转又能沿滑道滑动。本发明提高了叶片的测量效率和精度,用于叶片制造过程中、制造完成后的全尺寸测量。
申请公布号 CN102768026B 申请公布日期 2015.07.29
申请号 CN201210255187.0 申请日期 2012.07.23
申请人 黑龙江科技大学 发明人 赵灿;何万涛;陈富;梁永波;姚青文;杨松华;孟祥林;程俊廷;刘锦辉;肖胜兵
分类号 G01B11/25(2006.01)I 主分类号 G01B11/25(2006.01)I
代理机构 深圳市智科友专利商标事务所 44241 代理人 曲家彬
主权项 一种叶片全尺寸快速检测的设备,根据一种叶片全尺寸快速检测的方法对叶片进行检测,所述的叶片全尺寸快速检测的方法,基于三维光学测量系统和面结构光投影轮廓术对叶片进行检测,检测方法包括以下步骤:A.建立与测量系统光学三维扫描测量头相对位置可调的叶片支架,在叶片支架上设置标志点,基于摄影测量原理和光束平差优化方法获得标志点坐标;B.将步骤A中获得到的标志点坐标输入到三维测量软件,在计算机上建立叶片支架正反面的原始模型及基础坐标系;C.将被测叶片安装在叶片支架上;D.光学三维扫描测量头对叶片支架和叶片一起进行测量,计算机通过识别叶片支架的标志点特征将测量得到的标志点坐标和步骤B所述的标志点坐标对齐,将测量数据载入到步骤B所述的原始模型中,完成单次测量;E.计算机将步骤D的测量结果在步骤B建立的基础坐标系中拼合;F.计算机判断步骤E的拼合结果是否为完整的叶片型面数据;G.如果完整,则优化测量结果,测量结束;如果不完整,则调整叶片支架的位置,返回步骤D,所述的设备包括由步进电机、高精密丝杆导轨和光学三维扫描测量头组成的测量组件,步进电机通过控制系统带动光学三维扫描测量头在高精密丝杆导轨上沿垂直方向运动,高精密丝杆导轨和底座平台固定连接,其特征在于,还包括叶片支架、两轴转台(8)和滑道(9),所述的叶片支架包括:框式标志点支架(5)和叶片夹具(7),框式标志点支架(5)为一面开口的框形结构,框式标志点支架四周粘贴有标志点,叶片夹具(7)位于框式标志点支架(5)的两侧边框(5‑2)之间,框式标志点支架(5)和叶片夹具(7)分别和两轴转台(8)的上表面固定连接,两轴转台(8)和滑道(9)形成两轴转台(8)既能在两轴方向旋转又能沿滑道(9)滑动的连接结构,滑道(9)和底座平台(1)固定连接。
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