多通道芯片测试系统

摘要

本发明公开了一种多通道芯片测试系统，具有依次串行连接的计算机、FPGA、调制解调电路、探针这些组成器件；调制解调电路具有8-16个并行的通道，调制解调电路产生13.56MHz频率的信号，测试芯片是频率为13.56MHz的RFID射频识别芯片。本发明实现了8-16个通道同时并行测试，节省更多的时间，而且测试信号有很强的抗干扰能力。

主权项

一种多通道芯片测试系统，用于测试芯片的性能，具有探针（5），探针（5）的两个探头分别与一只芯片（6）的两个电极连接，其特征在于：具有依次串行连接的计算机（1）、FPGA（3）、调制解调电路、探针（5）这些组成器件；计算机（1）通过屏蔽线的串口线（2）与FPGA（3）通信，用于传送测试脚本、测试命令、回传测试结果；FPGA（3）的内部含有触发器，逻辑门阵列，能够负责多个测试信号的产生和芯片（6）返回信号的判断，同时将测试的结果放回给计算机处理。