多路晶体管BE结结温测量装置

摘要

多路晶体管BE结结温测量装置，装置开关按键用以控制装置电路的开断。PC机通过指令传输模块向FPGA控制模块发出指令，FPGA控制模块的五个管脚连接到开关模块的五个switch输入端，控制MOS组的沟道关断，同时，FPGA控制模块的另五个管脚连接的采集模块的ULN2003控制芯片的五个管脚，经过继电器组，流进外部老化电路中的晶体管的基极，电流通过BE结流回测试模块的回路，通过FPGA控制模块发出指令，通过采集触发端子向MP424采集模块发出指令。MP424采集模块通过采集端子进行数据采集。本发明能够实时监控晶体管在老化过程中BE结结温，采用电子控制方式断电，能够精确地保证被测器具在断电瞬间完成测试，确保试验符合标准要求。

主权项

多路晶体管BE结结温测量装置，其特征在于：该装置包括机箱(1)、测量端子组a(2)、老化供电端子组a(3)、指令传输口(4)、采集数据传输口(5)、装置供电输入耦合器(6)、装置开关按键(7)以及内部控制电路；所述内部控制电路设置在机箱(1)内的衬板上，内部控制电路包括输入耦合器接线端子(8)、50V直流电源(9)、15V直流电源(10)、MP424采集模块(11)、开关测试采集电路PCB板(12)；开关测试采集电路PCB板包括开关模块(13)、测试模块(14)、FPGA控制模块(15)、采集模块(16)；机箱(1)的前面板上为测量端子组a(2)、老化供电端子组a(3)两个区；测量端子组a(2)包括第一测量端子C(2.1.1)、第一测量端子B(2.1.2)、第一测量端子E(2.1.3)、第二测量端子C(2.2.1)、第二测量端子B(2.2.2)、第二测量端子E(2.2.3)、第三测量端子C(2.3.1)、第三测量端子B(2.3.2)、第三测量端子E(2.3.3)、第四测量端子C(2.4.1)、第四测量端子B(2.4.2)、第四测量端子E(2.4.3)、第五测量端子C(2.5.1)、第五测量端子B(2.5.2)、第五测量端子E(2.5.3)，其分别对应连接老化电路中五个晶体管集电极、基极、发射极，测量端子组a(2)在机箱(1)内部与PCB板上的十五个测量端子组相连；老化供电端子组a(3)包括第一老化供电端子U(3.1.1)、第一老化供电端子I(3.1.2)、第二老化供电端子U(3.2.1)、第二老化供电端子I(3.2.2)、第三老化供电端子U(3.3.1)、第三老化供电端子I(3.3.2)、第四老化供电端子U(3.4.1)、第四老化供电端子I(3.4.2)、第五老化供电端子U(3.5.1)、第五老化供电端子I(3.5.2)，分别对应连接老化电路中五个晶体管的基极和集电极，老化供电端子a(3)在机箱(1)内部与开关测试采集电路PCB板(12)上十个老化供电端子组相连；机箱(1)的后面板设有一个指令传输口(4)，一个采集数据传输口(5)，一个电源输入耦合器(6)，一个装置开关按键(7)；指令传输口(4)通过USB线与PC机相连，内部与开关测试采集电路PCB板(12)上指令传输模块相连，达到指令由PC机向装置传输；采集数据传输口(5)通过USB线与PC机相连，内部与MP424采集模块(11)相连，达到采集数据由装置向PC机传输；电源输入耦合器(6)内置电源滤波，在机箱(1)内部通过输入耦合器接线端子(8)与50V直流电源(9)、15V直流电源(10)连接，用以开关测试采集电路PCB板(12)上不同模块的供电；所述装置开关按键(7)用以控制装置电路的开断；PC机通过指令传输模块(27)向FPGA控制模块(15)发出指令，FPGA控制模块(15)的五个管脚连接到开关模块(13)的五个输入端，控制被测晶体管老化电路断开，同时，FPGA控制模块(15)的另五个管脚连接采集模块(16)，选通一路测试电流的导通，此时测试电流从测试模块(14)流出，流进外部老化电路中的晶体管的基极，电流通过BE结流回测试模块(14)的回路，同时，PC机发出指令，通过FPGA控制模块(15)发出指令，该指令向MP424采集模块(11)发出指令。MP424采集模块(11)进行数据采集。