| 摘要 |
複数の波長において分光システムによって生成され、システムの検出器の固定位置において検出される波を用いて組織サンプルを特性化するパラメータの測定値を動的に位置特定するシステムおよび方法。パラメータは、サンプルのインパルス応答、サンプルの物質成分の特性を表す基準データ、および、異なる波長に対応するサンプルを通る経路長に基づいて計算される。動的位置特定は、求められたパラメータを表す曲線の異なる点を考慮することによって実行され、サンプルにわたるパラメータの分布の空間マップを形成することを可能にする。複数の検出器におけるインパルス応答のさらなる測定が、時間の関数としてのサンプルにわたる測定パラメータの変化の判定を促進する。 |
