发明名称 HALBLEITERBAUELEMENT UND VERFAHREN ZU SEINER HERSTELLUNG
摘要 Die vorliegende Offenbarung stellt ein Halbleiterbauelement und ein Verfahren zu seiner Herstellung bereit. Das Halbleiterbauelement enthält ein Substrat, mindestens ein Split-Gate-Speicherbauelement und mindestens ein Logik-Bauelement. Das Split-Gate-Speicherbauelement ist auf dem Substrat angeordnet. Das Logik-Bauelement ist auf dem Substrat angeordnet. Mindestens eines von einem Auswahlgatter und einem Hauptgatter des Split-Gate-Speicherbauelements und einem Logikgatter des Logik-Bauelements besteht aus Metall. Das Verfahren zum Herstellen des Halbleiterbauelements enthält das Ausbilden von mindestens einem Split-Gate-Stapel und mindestens einem Logikgatter-Stapel und das jeweilige Ersetzen mindestens einer von einer Dummy-Gatterschicht und einer Hauptgatterschicht in dem Split-Gate-Stapel und der Dummy-Gatterschicht in dem Logikgatter-Stapel durch mindestens ein Metallspeichergatter und ein Metall-Logikgatter.
申请公布号 DE102014019165(A1) 申请公布日期 2015.07.23
申请号 DE20141019165 申请日期 2014.12.19
申请人 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD. 发明人 CHUANG, HARRY HAK-LAY;WU, WEI-CHENG;KAO, YA-CHEN
分类号 H01L21/8247;H01L27/115 主分类号 H01L21/8247
代理机构 代理人
主权项
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