| 摘要 |
<p>Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Anordnung zur einfachen und effektiven Temperaturstabilisierung kritischer Konstruktionselemente in höchstauflösenden Lichtmikroskopen, die eine geometrische Auflösung im Nanometermaßstab bieten, wobei besonders auf die Stabilität der Positionen des Objektivs und des Objektes eingegangen wird.</p> |
