发明名称 |
测量介质温度的方法和温度传感器 |
摘要 |
本发明涉及一种用于测量介质的温度的方法,其中,该介质和至少一个加热装置接触,并且加热装置具有至少一个PTC元件。在本方法中检测在加热装置运行期间表示PTC元件上的电流、和/或电压、和/或电阻特征的至少一个参数。从与时间有关的电导值中形成至少一个原因变量。对这个原因变量进行计算,以用于得出介质温度。 |
申请公布号 |
CN102345495B |
申请公布日期 |
2015.07.22 |
申请号 |
CN201110206621.1 |
申请日期 |
2011.07.22 |
申请人 |
罗伯特·博世有限公司 |
发明人 |
W.克伦克;M.蔡诺伊克斯;D.胡米尼克 |
分类号 |
F01N11/00(2006.01)I;G01K7/22(2006.01)I |
主分类号 |
F01N11/00(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
曹若;杨国治 |
主权项 |
用于测量介质的温度的方法,其中,介质和至少一个加热装置(18)接触,并且加热装置(18)具有至少一个PTC元件,该方法包括下述方法步骤:‑ 检测至少一个表示在加热装置(18)运行期间在PTC元件上的电流和/或电压和/或电阻特征的参数,‑ 从这些检测到的数值中形成至少一个电导值,‑ 从与时间有关的电导数中形成至少一个原因变量(100;200),‑ 分析所述至少一个原因变量(100;200),以得出介质温度。 |
地址 |
德国斯图加特 |