发明名称 |
单光子发射断层成像的处理方法及系统 |
摘要 |
本发明提出一种单光子发射断层成像的处理方法及系统,该方法包括:数字化采样波形信号;输入预设的能窗上限、能窗下限以及基线偏置;根据所述基线偏置对数字化波形信号剔除数字基线;从数字化波形信号中提取过阈信号;对过阈信号进行加和,实现能量的数字积分;根据能窗上限、能窗下限对经过积分处理后的过阈信号进行整合,得到完整的过阈事件。本发明的方法具有速度快,并行处理能力强,易于升级等特点,适用于数字化人体单光子发射断层成像设备中的电子学设备。 |
申请公布号 |
CN104783829A |
申请公布日期 |
2015.07.22 |
申请号 |
CN201510209913.9 |
申请日期 |
2015.04.29 |
申请人 |
北京永新医疗设备有限公司 |
发明人 |
刘亚强;鲍天威;张弥;李永亮;陈思;龚光华;王石;刘迈 |
分类号 |
A61B6/03(2006.01)I |
主分类号 |
A61B6/03(2006.01)I |
代理机构 |
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 |
代理人 |
张大威 |
主权项 |
一种单光子发射断层成像的处理方法,其特征在于,包括以下步骤:数字化采样波形信号;输入预设的能窗上限、能窗下限以及基线偏置;根据所述基线偏置对所述数字化波形信号剔除数字基线;从数字化波形信号中提取过阈信号;对所述过阈信号进行加和,实现能量的数字积分;根据所述能窗上限、能窗下限对经过所述积分处理后的过阈信号进行整合,得到完整的过阈事件。 |
地址 |
101102 北京市通州区中关村科技园区通州园金桥科技产业基地环科中路17号17A |