发明名称 快闪存储器及其制造方法
摘要 本发明公开了一种快闪存储器,包括衬底、第一栅极结构、源极区与漏极区、自行对准接触窗、第一介电层以及第二介电层。第一栅极结构位于衬底的晶胞区上。源极区与漏极区分别位于晶胞区的第一栅极结构间的衬底中。自行对准接触窗位于第一栅极结构之间,且位于源极区与漏极区上。第一介电层围绕自行对准接触窗,且在对应第一栅极结构处具有凹陷。第二介电层位于第一介电层中,且填满凹陷,第二介电层的介电常数低于第一介电层的介电常数。
申请公布号 CN104795396A 申请公布日期 2015.07.22
申请号 CN201410026977.0 申请日期 2014.01.21
申请人 华邦电子股份有限公司 发明人 洪文;廖修汉;蔡耀庭;陈彦名
分类号 H01L27/115(2006.01)I;H01L21/8247(2006.01)I 主分类号 H01L27/115(2006.01)I
代理机构 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人 赵根喜;李昕巍
主权项 一种快闪存储器,包括:衬底,所述衬底包括晶胞区;多个第一栅极结构,位于所述衬底的所述晶胞区上;多个源极区与多个漏极区,分别位于所述晶胞区的所述第一栅极结构之间的所述衬底上;多个自行对准接触窗,位于所述第一栅极结构之间,且位于所述源极区与所述漏极区上;第一介电层,围绕所述自行对准接触窗,且在对应所述第一栅极结构处具有多个凹陷;以及第二介电层,位于所述第一介电层中,且填满所述凹陷,所述第二介电层的介电常数低于所述第一介电层的介电常数。
地址 中国台湾台中市大雅区科雅一路8号