发明名称 | 基于机器视觉的光学薄膜表面缺陷检测方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种基于机器视觉的光学薄膜表面缺陷检测方法,提供一种基于机器视觉的光学薄膜表面缺陷检测方法,包括以下步骤,第一步,采集光学薄膜表面的图像,对该光学薄膜表面图像进行平滑处理。第二步,对平滑处理后的光学薄膜表面图像提取背景图像及二值化处理。第三步,根据不同缺陷的图像特征,识别出缺陷。本发明方法利用机器视觉检测技术和图像处理技术,实现了切膜机的自动缺陷检测,利用均值滤波来获取图像背景,有效地实现了光学薄膜的缺陷检测,并提高了产品原料的利用率。本发明基于机器视觉的光学薄膜表面缺陷检测方法,实现了对光学薄膜表面缺陷更准确、更高效的检测。 | ||
申请公布号 | CN104792794A | 申请公布日期 | 2015.07.22 |
申请号 | CN201510214602.1 | 申请日期 | 2015.04.28 |
申请人 | 武汉工程大学 | 发明人 | 胡婷婷;金国祥 |
分类号 | G01N21/88(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/88(2006.01)I |
代理机构 | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 | 代理人 | 唐万荣 |
主权项 | 一种基于机器视觉的光学薄膜表面缺陷检测方法,其特征在于,包括以下步骤,1)采集光学薄膜表面的图像,对该光学薄膜表面图像进行平滑处理;2)对平滑处理后的光学薄膜表面图像提取背景图像及二值化处理;3)根据不同缺陷的图像特征,识别出缺陷。 | ||
地址 | 430074 湖北省武汉市洪山区雄楚大街693号 |