发明名称 |
一种基于函数调用记录的缺陷定位方法及装置 |
摘要 |
本发明涉及一种基于函数调用记录的缺陷定位方法及装置,属于软件测试技术领域。本发明方法利用面向切面编程AOP技术,针对每一个测试用例获取被测程序的函数调用记录,并以函数为单位对该记录进行统计分析,获取函数在成功或失败的测试用例执行中的测试用例覆盖信息、调用次数差异信息、数据传递差异信息以及调用关系差异信息,然后利用这些信息计算得到函数的缺陷嫌疑值,最后对所有函数的缺陷嫌疑值进行排序即可得到缺陷定位结果。对比现有技术,本发明能够在不改变现有测试流程的前提下,方便地进行缺陷定位,并具有更高的定位准确度。 |
申请公布号 |
CN104794059A |
申请公布日期 |
2015.07.22 |
申请号 |
CN201510233119.8 |
申请日期 |
2015.05.08 |
申请人 |
北京理工大学 |
发明人 |
金福生;赵喆;韩翔宇 |
分类号 |
G06F11/36(2006.01)I |
主分类号 |
G06F11/36(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种基于函数调用记录的缺陷定位方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一、对被测程序执行测试用例,获取函数调用记录文件;步骤二、读取函数调用记录文件,将函数调用信息整理为后续分析需要的格式;步骤三、根据函数在通过与失败两种测试用例中各自的覆盖率,计算函数的基础嫌疑值basic;步骤四、根据函数在通过与失败两种测试用例中执行次数的差异,计算函数的执行次数差异值ExeTimeDif;步骤五、根据函数在通过与失败两种测试用例中数据传递的差异,计算函数的数据传递差异值DataDif;步骤六、根据函数在通过与失败两种测试用例中调用关系的差异,计算函数的调用关系差异值CallDif;步骤七、将函数的基础嫌疑值、执行次数差异值、数据传递差异值以及调用关系差异值相结合,计算得到函数最终的缺陷嫌疑值Final;步骤八、根据函数的缺陷嫌疑值对函数由高到低排序得到缺陷定位结果后输出。 |
地址 |
100081 北京市海淀区中关村南大街5号北京理工大学 |