发明名称 |
一种改善多晶硅表面缺陷的方法 |
摘要 |
本发明涉及半导体领域,具体公开了一种改善多晶硅表面缺陷的方法,具体即:利用含硫钝化液或SCl<sub>2</sub>气体对多晶硅进行表面钝化处理,所述含硫钝化液为硫化铵溶液或硫化钠溶液。本发明通过含硫钝化液或SCl<sub>2</sub>气体对多晶硅进行表面钝化处理,能够有效的出去再多晶硅形成工艺过程中多晶硅表面形成的表面缺陷,以及悬浮化学键,能小幅度的提高多晶硅的表面迁移率,并能在提高多晶硅高迁移率的使用寿命。相对传统的注氢和去氢的工艺在操作上更为简便,而且只需要一步工艺过程即可完成。 |
申请公布号 |
CN104795321A |
申请公布日期 |
2015.07.22 |
申请号 |
CN201510093318.3 |
申请日期 |
2015.03.02 |
申请人 |
京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司 |
发明人 |
王博;玄明花 |
分类号 |
H01L21/306(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/306(2006.01)I |
代理机构 |
北京路浩知识产权代理有限公司 11002 |
代理人 |
李相雨 |
主权项 |
一种改善多晶硅表面缺陷的方法,其特征在于:利用含硫钝化液或SCl<sub>2</sub>气体对多晶硅进行表面钝化处理。 |
地址 |
100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 |