发明名称 双层、三层遮罩临界尺寸控制
摘要
申请公布号 TWI493619 申请公布日期 2015.07.21
申请号 TW098137246 申请日期 2009.11.03
申请人 兰姆研究公司 发明人 戴加迪诺 杰瑞多A;赫夫提 罗伯特C
分类号 H01L21/3065 主分类号 H01L21/3065
代理机构 代理人 许峻荣 新竹市民族路37号10楼
主权项 一种蚀刻特征部之临界尺寸(CD)的控制方法,该蚀刻特征部位于蚀刻层中,其中该蚀刻层配置在功能化有机遮罩层下方,该功能化有机遮罩层配置在中间遮罩层下方,该中间遮罩层配置在图案化光阻遮罩下方,其形成一堆叠,包含:中间遮罩层开口步骤,藉由相对于该图案化光阻遮罩而选择性蚀刻该中间遮罩层,将该中间遮罩层加以开口;功能化有机遮罩层开口步骤,将该功能化有机遮罩层加以开口,其中该功能化有机遮罩层为不包含无定形碳之聚合物,包含:通入含有COS之开口气体;形成电浆;中止通入该开口气体;及蚀刻步骤,蚀刻该蚀刻层。
地址 美国