Procedimiento para la obtención del punto de intercepción de tercer orden en circuitos analógicos lineales integrados en un cristal semiconductor mediante la medición de temperatura,申请号ES20130030902-传众专利搜索

发明名称	Procedimiento para la obtención del punto de intercepción de tercer orden en circuitos analógicos lineales integrados en un cristal semiconductor mediante la medición de temperatura
摘要
申请公布号	ES2525139(B2)	申请公布日期	2015.07.17
申请号	ES20130030902	申请日期	2013.06.17
申请人	UNIVERSITAT POLITÈCNICA DE CATALUNYA	发明人	ARAGONES CERVERA, XAVIER;MATEO PENA, DIEGO;ALTET SANAHUJES, JOSEP
分类号	G01R31/3163	主分类号	G01R31/3163
代理机构		代理人
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