发明名称 具有改善的逆向突波能力及减少的漏电流的多晶矽层之齐纳二极体;ZENER DIODE HAVING A POLYSILICON LAYER FOR IMPROVED REVERSE SURGE CAPABILITY AND DECREASED LEAKAGE CURRENT
摘要 像是齐纳二极体的半导体极装置包括第一导电性类型的第一半导体材料以及与第一半导体接触的第二导电性类型的第二半导体材料,用以在其之间形成接面。第一氧化物层系设置在第二半导体材料之一部分之上,使得第二半导体材料之剩余部分被曝露。多晶矽层系设置在第二半导体材料之曝露部分以及第一氧化物层之一部分上。第一导电层系设置在多晶矽层上。第二导电层系设置在相对与第二半导体材料接触的第一半导体材料之表面的第一半导体材料之表面上。
申请公布号 TW201528343 申请公布日期 2015.07.16
申请号 TW103133534 申请日期 2014.09.26
申请人 微协通用半导体有限责任公司 VISHAY GENERAL SEMICONDUCTOR LLC 发明人 陈世冠 CHEN, SHIH KUAN;江挽澜 CHIANG, WAN LAN;林意茵 LIN, YIH YIN;蒋铭泰 CHIANG, MING TAI;彭智平 PENG, CHIH PING
分类号 H01L21/265(2006.01);H01L29/866(2006.01) 主分类号 H01L21/265(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 美国 US