| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur zerstörungsfreien Inspektion eines Objekts (104), wobei das Objekt (104) mit elektromagnetischer Strahlung (113, 123, 133) durchstrahlt wird und Intensitätswerte nicht absorbierter Strahlen gemessen und ausgewertet werden, wobei das Verfahren die folgenden Schritten aufweist: Bestimmen, in einem das Objekt (104) repräsentierenden dreidimensionalen Datensatz (300), eines Prüfraums (310) mit Raumelementen (301), denen jeweils ein erster, einer ersten Materialeigenschaft des Objekts (104) entsprechender, Materialgrößenwert aus einem vorbestimmten Wertebereich zugeordnet ist, Ableiten von Werten, die jeweils einer räumlich geometrischen Größe des Prüfraums (310) in einer vorbestimmten ersten Projektionsrichtung (PR1, PR2) entsprechen; Bestimmen eines Prüfbereichs (410) in einem zweidimensionalen Datensatz (400), der eine Flächenprojektion des Objekts (104) in der vorbestimmten ersten Projektionsrichtung (PR1, PR2) repräsentiert und in dem jedem Flächenelement (401) ein zweiter, einer zweiten Materialeigenschaft entsprechender Materialgrößenwert zugeordnet ist, indem eine Projektion (310') des Prüfraums (310), der vorbestimmten ersten Projektionsrichtung (PR1, PR2) entsprechend, in den zweiten Datensatz (400) berechnet wird; und Übertragen der abgeleiteten Werte der räumlich geometrischen Größe in jeweils entsprechende Flächenelemente (401) der Projektion (310'). Die Erfindung betrifft weiter eine Vorrichtung (100) zur zerstörungsfreien Inspektion eines Objekts (104), die zur Durchführung des Verfahrens eingerichtet ist. |
