发明名称 |
半导体元件及其制造方法;SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF FABRICATING THE SAME |
摘要 |
一种半导体元件的制造方法。提供具有第一区与第二区的基底。第一区的基底上已形成多个堆叠闸极结构。各堆叠闸极结构包括穿隧介电层、电荷储存层、闸间介电层、控制闸极,且相邻的两个堆叠闸极结构之间具有间隙。第二区的基底上已形成至少一闸极结构。在基底上共形地形成衬层。在第二区中形成覆盖衬层的介电层。在闸极结构的顶部及闸极结构的两侧的基底上形成金属矽化物层。进行接触窗制程,以形成连接至该金属矽化物层的多个接触窗。 |
申请公布号 |
TW201528346 |
申请公布日期 |
2015.07.16 |
申请号 |
TW103100832 |
申请日期 |
2014.01.09 |
申请人 |
旺宏电子股份有限公司 MACRONIX INTERNATIONAL CO., LTD. |
发明人 |
楚大纲 CHU, TA KANG;陈鸿祺 CHEN, HONG CHI;易成名 YIH, CHENG MING |
分类号 |
H01L21/28(2006.01);H01L21/336(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/28(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
詹铭文叶璟宗 |
主权项 |
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地址 |
新竹市新竹科学工业园区力行路16号 TW |