发明名称 半导体元件及其制造方法;SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF FABRICATING THE SAME
摘要 一种半导体元件的制造方法。提供具有第一区与第二区的基底。第一区的基底上已形成多个堆叠闸极结构。各堆叠闸极结构包括穿隧介电层、电荷储存层、闸间介电层、控制闸极,且相邻的两个堆叠闸极结构之间具有间隙。第二区的基底上已形成至少一闸极结构。在基底上共形地形成衬层。在第二区中形成覆盖衬层的介电层。在闸极结构的顶部及闸极结构的两侧的基底上形成金属矽化物层。进行接触窗制程,以形成连接至该金属矽化物层的多个接触窗。
申请公布号 TW201528346 申请公布日期 2015.07.16
申请号 TW103100832 申请日期 2014.01.09
申请人 旺宏电子股份有限公司 MACRONIX INTERNATIONAL CO., LTD. 发明人 楚大纲 CHU, TA KANG;陈鸿祺 CHEN, HONG CHI;易成名 YIH, CHENG MING
分类号 H01L21/28(2006.01);H01L21/336(2006.01) 主分类号 H01L21/28(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文叶璟宗
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行路16号 TW