发明名称 半导体装置;SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要 本发明提供一种导通(开启)时的电流大的电晶体。本发明的一个方式是一种半导体装置,包括包含过剩氧的第一绝缘体;第一绝缘体上的第一氧化物半导体;第一氧化物半导体上的第二氧化物半导体;在第二氧化物半导体上间隔开地配置的第一导电体及第二导电体;与第一氧化物半导体的侧面、第二氧化物半导体的顶面及侧面、第一导电体的顶面及第二导电体的顶面接触的第三氧化物半导体;第三氧化物半导体上的第二绝缘体;隔着第二绝缘体及第三氧化物半导体面对第二氧化物半导体的顶面及侧面的第三导电体,其中,第一氧化物半导体的氧透过性高于第三氧化物半导体。
申请公布号 TW201528510 申请公布日期 2015.07.16
申请号 TW103143320 申请日期 2014.12.11
申请人 半导体能源研究所股份有限公司 SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD. 发明人 山崎舜平 YAMAZAKI, SHUNPEI;下村明久 SHIMOMURA, AKIHISA;佐藤裕平 SATO, YUHEI;山根靖正 YAMANE, YASUMASA;山元良高 YAMAMOTO, YOSHITAKA;须沢英臣 SUZAWA, HIDEOMI;田中哲弘 TANAKA, TETSUHIRO;冈崎豊 OKAZAKI, YUTAKA;奥野直树 OKUNO, NAOKI;石山贵久 ISHIYAMA, TAKAHISA
分类号 H01L29/772(2006.01);H01L29/78(2006.01) 主分类号 H01L29/772(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本 JP