一种基于盐雾环境试验的印制电路板使用寿命评估方法

摘要

本发明公开一种基于盐雾环境试验的印制电路板使用寿命评估方法，首先，通过将该印制电路板的失效模式与工作环境进行相关联，建立了基于盐雾试验的加速寿命预测模型，通过试验数据与Arrhenius加速寿命预测模型相结合的方法，绘制了温度、盐溶液浓度及盐雾沉降量等三个环境因子与试验样品腐蚀面积间的变化曲线，有效地预测了该印制电路板在盐雾环境服役条件下的服役寿命；克服了传统可靠性分析方法在分析小样本，失效机理复杂系统时无法精确建模的问题。其次，在装置的研制阶段，通过开展加速寿命试验，缩短试验时间，提高海上武器装备使用寿命验证水平，让使用中可能出现的问题在服役前得到充分暴露和解决，从而制定科学合理的维修决策，以节省维修费用，并保障战备的完好和任务的成功。

主权项

一种基于盐雾试验的印制电路板使用寿命评估方法，其特征在于，具体包括以下步骤：A：确定盐雾试验样本数n；B：对盐雾试验样本数n进行编号，并制定试验条件与合格判据；C：随机选取部分编号样本进行三防漆的预处理，剩余部分编号样本不进行任何处理，然后对全部样本进行试验；D：取出样本进行初步的腐蚀形貌判断，以判定样品是否已直接失效，清洗样品表面至正常水平之后测定样本的电性能；选取Arrhenius模型分别通过基于加速寿命试验与基于样本性能退化的估计方法对印制电路板的使用寿命进行估计。