发明名称 计算断层摄影成像方法及系统
摘要 一种计算断层摄影成像方法,包括:获取表示使用未对准的断层摄影成像装置所获得的对象的二维投影图像的投影数据;并且,对投影数据进行处理以生成未对准数据,未对准数据表示量化所述断层摄影成像装置的各个未对准的一个或多个值。
申请公布号 CN102711613B 申请公布日期 2015.07.15
申请号 CN201180005845.4 申请日期 2011.01.13
申请人 澳大利亚国立大学 发明人 安德鲁·莫里斯·金斯顿;亚德里恩·保罗·谢泼德;特龙·卡尔斯坚·瓦尔斯洛特;沙恩·杰米·莱瑟姆;亚瑟·萨克拉里乌
分类号 A61B6/00(2006.01)I;G01K9/00(2006.01)I;G06T9/00(2006.01)I 主分类号 A61B6/00(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 王萍;陈炜
主权项 一种计算断层摄影成像方法,包括:获取表示使用具有锥形波束几何形状的未对准的断层摄影成像装置所获得的对象的二维投影图像的投影数据,所述投影图像是沿着扫描轨迹来获取的,所述扫描轨迹涉及在获取连续的投影图像之间、用很小的量线性平移所述对象和围绕旋转轴旋转所述对象;以及对所述投影数据进行处理,以生成未对准数据,所述未对准数据表示量化所述断层摄影成像装置的各个未对准的一个或多个未对准值;其中,所述处理包括:处理所述投影数据,以针对所述断层摄影成像装置的至少一个未对准中的各个试验值生成试验重建断层摄影横截面图像,至少一个所述试验重建断层摄影横截面图像不与所述旋转轴正交;处理所述试验重建断层摄影图像,以生成所述试验重建断层摄影图像的各个质量评估结果;以及对于所述断层摄影成像装置的所述至少一个未对准中的每个未对准,基于所述试验值和相应的质量评估结果来确定量化所述未对准的相应未对准值。
地址 澳大利亚首都直辖区