光学设备用遮光材料

摘要

本发明提供具有保持遮光膜的必要物性、并且低光泽度区域宽的遮光膜的光学设备用遮光材料。其为在基材(2)上具有遮光膜(4)的光学设备用遮光材料(1)，遮光膜(4)的表面性状按照满足A1及A2中的至少任一者、和B1及B2中的至少任一者的方式进行调整。A1是三维表面粗糙度测定中的算术平均粗糙度Sa达到0.4以上且2.0以下的条件，A2是三维表面粗糙度测定中的十点平均粗糙度Sz达到1以上且20以下的条件，B1是以三维表面粗糙度测定中的中心平面作为基准面，设从该基准面突出于位于Sa的n倍的高度位置的平面的突起数为Pn，设突出于位于Sa的(n+1)倍的高度位置的平面的突起数为P_n+1，设Pn与P_n+1的比(P_n+1/Pn)为Rn时(其中，n均为正的整数。)，R1达到55％以上、且R4达到7％以上的条件，B2是R1达到55％以上、R2达到15％以上、及R3达到8％以上的条件。

主权项

一种光学设备用遮光材料，其是具有遮光膜的光学设备用遮光材料，其中，所述遮光膜按照满足下述条件A1及条件A2中的至少任一者、和下述条件B1及条件B2中的至少任一者的方式调整表面性状，条件A1：设三维表面粗糙度测定中的算术平均粗糙度为Sa时，Sa的值达到0.4μm以上且2.0μm以下的条件，条件A2：设三维表面粗糙度测定中的十点平均粗糙度为Sz时，Sz的值达到1μm以上且20μm以下的条件，条件B1：以三维表面粗糙度测定中的凹凸的中心平面为基准面，设从该基准面突出于位于Sa的n倍的高度位置的平面的突起数为Pn，设突出于位于Sa的(n+1)倍的高度位置的平面的突起数为P_n+1，设Pn与P_n+1的比(P_n+1/Pn)为Rn时，R1达到55％以上、且R4达到7％以上的条件，其中，n均为正的整数,条件B2：与条件B1相同地设定Pn、P_n+1、Rn时，至少R1达到55％以上、R2达到15％以上、及R3达到8％以上的条件。