一种利用上下移方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法

摘要

本发明公开了一种利用上下移方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法，其包括以下步骤：a、实测红外截止滤光片分光曲线并编号存盘；b、利用TPC薄膜膜系设计软件打开实测分光曲线及相应的设计分光曲线，两者对比并判断是否出现通带有曲线凹陷；如果有曲线凹陷，则将红外截止滤光片冷却2小时后再次测量分光曲线，或者将红外截止滤光片转角30度再次测量分光曲线；c、将两次实测分光曲线进行比较，并判断曲线凹陷是上移还是下移，上移则表示整体二氧化钛镀厚或整体二氧化硅镀薄，下移则表示整体二氧化硅镀厚或整体二氧化钛镀薄。本发明能够方便且快速地判断是哪种膜料的膜层整体偏厚或者偏薄，从而有利于确定生产加工改善的方向并纠正偏差。

主权项

一种利用上下移方式查找红外截止膜制作偏差原因的方法，其特征在于，包括有以下工艺步骤，具体为：a、利用分光光度计实际测量红外截止滤光片的分光曲线，并编号存盘；b、利用TPC薄膜膜系设计软件打开实际测量的分光曲线以及与实际测量的红外截止滤光片相应的原设计程序，通过比对原设计分光曲线与实际测量的分光曲线，判断是否出现通带有曲线凹陷；如果实际测量的分光曲线确实出现通带有曲线凹陷，则将被测量的红外截止滤光片冷却2小时后再次测量分光曲线，或者将被测量的红外截止滤光片转角30度再次测量分光曲线；c、利用TPC薄膜膜系设计软件打开第二次实际测量的分光曲线，并将第一次实际测量的分光曲线与第二次实际测量的分光曲线进行比较，并判断曲线凹陷部分是上移还是下移；如果曲线凹陷部分上移，则确定红外截止膜整体二氧化钛镀厚了或者整体二氧化硅镀薄了；如果曲线凹陷部分下移，则确定红外截止膜整体二氧化硅镀厚了或者整体二氧化钛镀薄了。