发明名称 |
沉积SiO<sub>2</sub>膜的方法 |
摘要 |
本发明涉及一种在以下条件下沉积无机SiO<sub>2</sub>膜的方法:温度低于250℃,使用等离子体增强化学气相沉积(PECVD),在包括供应正硅酸四乙酯(TEOS)和O<sub>2</sub>,或其来源,以作为前体的室中,其中O<sub>2</sub>/TEOS比率介于15∶1至25∶1之间。 |
申请公布号 |
CN102108497B |
申请公布日期 |
2015.07.15 |
申请号 |
CN201010615668.9 |
申请日期 |
2010.12.24 |
申请人 |
SPP处理技术系统英国有限公司 |
发明人 |
凯瑟琳·贾尔斯;安德鲁·普赖斯;斯蒂芬·罗伯特·伯吉斯;丹尼尔·托马斯·阿尔卡德 |
分类号 |
C23C16/40(2006.01)I;C23C16/44(2006.01)I;C23C16/455(2006.01)I |
主分类号 |
C23C16/40(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
程金山 |
主权项 |
一种在以下条件下沉积无机SiO<sub>2</sub>膜的方法:温度低于250℃,使用等离子体增强化学气相沉积(PECVD),在包括供应正硅酸四乙酯(TEOS)和O<sub>2</sub>作为前体的室中,其中O<sub>2</sub>/TEOS的比率介于15∶1至25∶1之间;其中所述前体是使用RF驱动的喷头沉积的,其中所述喷头使用高频成分和低频成分驱动,并且所述高频成分处于13.56MHz,而所述低频成分为350kHz至2MHz。 |
地址 |
英国格温特郡 |