发明名称 | X射线装置 | ||
摘要 | 本发明涉及X射线装置。一种X射线衍射装置包括平坦分级多层结构8,该平坦分级多层结构8可用在用于样本6的SAXS配置中。该装置可以通过准直器16调整以适用于Bragg-Brentano测量,而不需要多个替换的束路径或复杂的结构。 | ||
申请公布号 | CN104777179A | 申请公布日期 | 2015.07.15 |
申请号 | CN201410833194.3 | 申请日期 | 2014.12.29 |
申请人 | 帕纳科有限公司 | 发明人 | D·贝克尔斯;S·普鲁戈维奇 |
分类号 | G01N23/20(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/20(2006.01)I |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人 | 吴信刚 |
主权项 | 一种X射线衍射装置,包括具有焦点的X射线源;样本台;焦点与样本台之间的平坦分级多层结构,用于将X射线从焦点引导到样本台上;以及X射线检测器,用于检测来自安装在样本台上的样本的X射线;还包括位于X射线源与样本台之间的准直器,其中准直器能够调节为用于Bragg‑Brentano几何结构测量的大有效孔径和用于SAXS测量的窄有效孔径。 | ||
地址 | 荷兰阿尔默洛 |