发明名称 金属侦测方法及金属侦测装置、以及非接触式供电装置之金属侦测方法及非接触式供电装置
摘要
申请公布号 TWI492477 申请公布日期 2015.07.11
申请号 TW102106919 申请日期 2013.02.27
申请人 松下电器产业股份有限公司 发明人 入江健一;河田雅史;兵头聪;小原弘士
分类号 H02J17/00;G01V3/10 主分类号 H02J17/00
代理机构 代理人 庄志强 台北市大安区敦化南路2段71号18楼;黄富源 台北市大安区敦化南路2段71号18楼
主权项 一种金属侦测方法,系利用藉由激磁配置于金属侦测区域之金属侦测线圈而从前述金属侦测线圈所放射的电磁波,来侦测在前述金属侦测区域是否存在金属,该金属侦测方法系具备以下之步骤:以具有单一基频之正弦波的振荡电流激磁前述金属侦测线圈并从前述金属侦测线圈放射电磁波的步骤;以及按照流动至前述金属侦测线圈之前述振荡电流中的前述基频之变动,侦测在前述金属侦测区域是否存在金属的步骤;侦测在前述金属侦测区域是否存在金属之步骤包含以下之步骤:当在前述振荡电流中产生相对于前述基频之高谐波时侦测出在前述金属侦测区域存在金属之步骤。
地址 日本