发明名称 半导体制造使用蚀刻机的吸附盘之气室结构
摘要
申请公布号 TWM505054 申请公布日期 2015.07.11
申请号 TW104202187 申请日期 2015.02.11
申请人 建泓科技实业股份有限公司 发明人 余庆璋;陈克民;廖崇杰;柯孟君;陈俊宇
分类号 H01L21/302 主分类号 H01L21/302
代理机构 代理人 李保禄 台北市中山区长安东路2段81号6楼
主权项 一种半导体制造使用蚀刻机的吸附盘之气室结构,系为半导体蚀刻制造时使用之静电吸盘,其中系包括:一静电盘本体,系为安置在一真空腔体内阴极上之吸附盘;一孔洞,系使氦气依沟槽流通至孔洞中;一内部通道,系连接该孔洞,并经由该静电盘本体内部连通至该静电盘本体之另一面;一聚醯亚胺铜箔层,系覆盖于吸附面上,并藉由直流电而产生静电,使该吸附盘增加吸附力。
地址 台北市松山区南京东路3段287号10楼之1