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经营范围
发明名称
MULTI-LAYER METAL CONTACS
摘要
반도체 디바이스 내에 금속 콘택들을 형성하기 위한 방법은, 적어도 하나의 게이트 전극을 둘러싸는 제1 유전체 층 안에 제1-층 콘택을 형성하는 단계를 포함하며, 제1-층 콘택은 아래놓인 기판의 도핑된 영역으로 연장된다. 방법은, 제1 유전체 층 위에 제2 유전체 층을 형성하는 단계 및 제2 유전체 층을 통해 제1-층 콘택으로 연장되는 제2-층 콘택을 형성하는 단계를 더 포함한다.
申请公布号
KR101536059(B1)
申请公布日期
2015.07.10
申请号
KR20130127667
申请日期
2013.10.25
申请人
타이완 세미콘덕터 매뉴팩쳐링 컴퍼니 리미티드
发明人
시에 밍-펭;쳉 웬-헝;라이 치-밍;시에 켄-시엔;가우 차이-셍;리우 루-건
分类号
H01L21/28
主分类号
H01L21/28
代理机构
代理人
主权项
地址
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