发明名称 SOLID-STATE IMAGING DEVICE
摘要 고체 촬상 소자에서, 반도체 기판의 제1 면측 상에 형성된 화소 회로가 복수의 수광 영역에 의해 공유된다. 반도체 기판의 제2 면측이 수광 영역의 광입사측이 된다. 반도체 기판의 제2 면측 부분에 형성된 수광 영역의 제2 면측 영역이 대략 등간격(even interval)으로 배치되고, 반도체 기판의 제1 면측 부분에 형성된 수광 영역의 제1 면측 영역이 비등간격(uneven interval)으로 배치되며, 제2 면측 영역과 제1 면측 영역이 반도체 기판에서 각각 접속되어, 수광 영역이 반도체 기판의 제2 면측으로부터 상기 제1 면측으로 연장된다.
申请公布号 KR101534116(B1) 申请公布日期 2015.07.09
申请号 KR20080048104 申请日期 2008.05.23
申请人 소니 주식회사 发明人 마부치 게이지
分类号 H01L27/14;H01L27/146;H04N5/335 主分类号 H01L27/14
代理机构 代理人
主权项
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