| 摘要 |
<p>Gerät (1) zur Messung der Partikelgrößenverteilung von Probenmaterial (44) mittels Lichtbeugung, umfassend: eine erste Lichtquelle (10) zur Erzeugung eines ersten monochromatischen Lichtstrahlenbündels (11), wobei das erste Lichtstrahlenbündel (11) einen optischen Pfad (2) des Geräts definiert, eine erste Fourier-Linse (12) für das erste Lichtstrahlenbündel (11), eine Messzelle (40) mit einem beidseits von Fenstern (46, 48) begrenzten Probenraum (42) zur Aufnahme des Probenmaterials (44), wobei das Probenmaterial (44) in dem Probenraum (42) mit dem ersten Lichtstrahlenbündel (11) bestrahlt werden kann, um ein erstes Beugungsmuster des Probenmaterials (44) zu erzeugen, wenn die Messzelle (40) im Strahlengang des ersten Lichtstrahlenbündels (11) angeordnet ist, eine zweite Lichtquelle (20) zur Erzeugung eines zweiten monochromatischen Lichtstrahlenbündels (21), wobei das zweite Lichtstrahlenbündel (21) in den optischen Pfad eingekoppelt wird, um mittels des zweiten Lichtstrahlenbündels (21) ein zweites Beugungsmuster des Probenmaterials (44) zu erzeugen, wobei die Wellenlängen der beiden Lichtstrahlenbündel (11, 21) unterschiedlich sind, um unterschiedliche Partikelgrößenintervalle abdecken zu können, eine Detektoreinrichtung (30) auf dem optischen Pfad (2) zum Nachweisen des von dem Probenmaterial (44) im ersten und zweiten Lichtstrahlenbündel (11, 21) erzeugten Beugungsmusters unter Winkeln in Vorwärtsrichtung, eine Auswerteeinrichtung (70) zum Bestimmen der Partikelgrößenverteilung des Probenmaterials (44) anhand des ersten Beugungsmusters in einem ersten Partikelgrößenintervall und anhand des zweiten Beugungsmusters in einem zweiten Partikelgrößenintervall, eine Reflektoreinrichtung (3) mit einem teildurchlässigen Spiegel (6), welcher das erste Lichtstrahlenbündel (11) reflektiert und für das zweite Lichtstrahlenbündel (21) durchlässig ist, um das zweite Lichtstrahlenbündel (21) durch die Rückseite (6b) des teildurchlässigen Spiegels (6) in den optischen Pfad (2) einzukoppeln, wobei die Reflektoreinrichtung (3) einen weiteren Spiegel (4) umfasst, so dass der optische Pfad im Wesentlichen U-förmig gefaltet ist und einen ersten Teilabschnitt (2a) zwischen der ersten Lichtquelle (10) und dem weiteren Spiegel (4), einen zweiten Teilabschnitt (2c) zwischen dem teildurchlässigen Spiegel (6) und der Detektoreinrichtung (30) und ...</p> |
