发明名称 Halbleiteranordnung und deren Herstellung
摘要 Eine Halbleiteranordnung und ein Verfahren zum Bilden der Gleichen werden beschrieben. Eine Halbleiteranordnung umfasst eine dritte Metallverbindung in Kontakt mit einer ersten Metallverbindung in einer ersten aktiven Region und eine zweite Metallverbindung in einer zweiten aktiven Region und ist über eine flache Grabenisolationsregion, die zwischen der ersten aktiven Region und der zweiten aktiven Region gebildet ist, gebildet. Ein Verfahren zum Bilden der Halbleiteranordnung umfasst ein Bilden einer ersten Öffnung über der ersten Metallverbindung, der STI Region und der zweiten Metallverbindung, und ein Bilden einer dritten Metallverbindung in der ersten Öffnung. Das Bilden der dritten Metallverbindung über der ersten Metallverbindung und der zweiten Metallverbindung verringert die RC Kopplung.
申请公布号 DE102014119226(A1) 申请公布日期 2015.07.09
申请号 DE201410119226 申请日期 2014.12.19
申请人 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING COMPANY, LTD. 发明人 WU, I-WEN;WANG, HSIEN-CHENG;LIU, SHIH-WEN;LEE, YUN;WANG, CHAO-HSUN;WANG, MEI-YUN
分类号 H01L29/47;H01L21/33 主分类号 H01L29/47
代理机构 代理人
主权项
地址