发明名称 定时发生器和测试装置以及测试速率的控制方法
摘要 延迟设定数据生成部(10)根据速率数据D<sub>RATE</sub>而生成延迟设定数据D<sub>DS</sub>。可变延迟电路(30)以规定的单位延迟量τu作为标准,从而使测试图形数据D<sub>PAT</sub>延迟了与延迟设定数据D<sub>DS</sub>相对应的延迟时间τ。第一速率数据D<sub>RATE1</sub>以单位延迟量τu的精度来指定测试图形数据的周期τ。第二速率数据D<sub>RATE2</sub>以高于单位延迟量τu的精度,来指定测试图形数据的周期。延迟设定数据生成部(10)以与第二速率数据D<sub>RATE2</sub>相对应的比例,将第一值X1和第二值X2进行时分输出,所述第一值X1和第二值X2与第一速率数据D<sub>RATE1</sub>相对应。
申请公布号 CN102204095B 申请公布日期 2015.07.08
申请号 CN200980144118.9 申请日期 2009.10.29
申请人 株式会社爱德万测试 发明人 渡边大辅;冈安俊幸
分类号 G01R31/30(2006.01)I;G01R31/317(2006.01)I 主分类号 G01R31/30(2006.01)I
代理机构 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人 黄志华
主权项 一种定时发生器,其接收应提供给被测试设备的测试图形数据、以及对所述测试图形数据的周期进行设定的速率数据D<sub>RATE</sub>,并根据所述速率数据D<sub>RATE</sub>,对于向所述被测试设备输出所述测试图形数据的定时进行控制,其特征在于,具备:延迟设定数据生成部,其接收所述速率数据D<sub>RATE</sub>,并生成延迟设定数据D<sub>DS</sub>;可变延迟电路,其以规定的单位延迟量τu作为标准,从而使所述测试图形数据延迟了与所述延迟设定数据相对应的延迟时间,即τ=τu×D<sub>DS</sub>,所述速率数据D<sub>RATE</sub>包括第一速率数据D<sub>RATE1</sub>和第二速率数据D<sub>RATE2</sub>,所述第一速率数据D<sub>RATE1</sub>以所述单位延迟量τu的精度来指定所述测试图形数据的周期;所述第二速率数据D<sub>RATE2</sub>以高于即细于所述单位延迟量τu的精度,来指定所述测试图形数据的周期,以与所述第二速率数据D<sub>RATE2</sub>相对应的比例即Y1:Y2,将第一值X1和第二值X2作为所述延迟设定数据D<sub>DS</sub>进行时分输出,并且Y1+Y2=1,所述第一值X1与所述第一速率数据D<sub>RATE1</sub>相对应;所述第二值X2与所述第一速率数据D<sub>RATE1</sub>相对应、且不同于所述第一值X1,所述延迟设定数据生成部包括:对所述第二速率数据进行△Σ调制的n次△Σ调制器,在已进行调制的所述第二速率数据中,将i次的比特列与所述第一速率数据的下位第i比特进行相加或相减,并作为所述延迟设定数据进行输出,其中n是自然数,并且1≦i≦n。
地址 日本东京