发明名称 一种金属化膜电容器层间压强测量方法和装置
摘要 本发明公开了一种金属化膜电容器层间测量装置,包括金属化膜电容器、对比芯轴、四个应变片和静态程控应变仪,金属化膜电容器是由两张金属化膜围绕芯轴卷绕而成,且卷绕层数为500至2000层,其中一个应变片作为测试应变片粘贴在金属化膜电容器的芯轴上,另一个应变片作为补偿应变片贴在另一个芯轴上,其余的两个应变片设置在静态程控应变仪中,四个应变片构成一个1/4电桥,该电桥的输出端与静态程控应变仪电气连接。本发明能够准确测量电容器层间压强的大小及其随层数的分布特征。
申请公布号 CN103487177B 申请公布日期 2015.07.08
申请号 CN201310399244.7 申请日期 2013.09.05
申请人 华中科技大学 发明人 李化;林福昌;李智威;刘德;王博闻;李浩原
分类号 G01L1/22(2006.01)I 主分类号 G01L1/22(2006.01)I
代理机构 华中科技大学专利中心 42201 代理人 朱仁玲
主权项 一种金属化膜电容器层间测量方法,是应用在一种金属化膜电容器层间测量装置中,所述测量装置包括金属化膜电容器、对比芯轴、四个应变片和静态程控应变仪,且所述测量方法包括以下步骤:(1)将一个应变片作为测试应变片粘贴在电容器的芯轴上,将两张金属化膜围绕芯轴卷绕形成电容器,将另一个应变片作为补偿应变片粘贴在另外一个芯轴表面上,用于测试应变片的温度补偿和形变补偿,并将另外两个应变片设置在静态程控应变仪中;(2)将粘贴在电容器芯轴上的测试应变片与贴在另一个芯轴的补偿应变片连接至静态程控应变仪上,从而与另外两个应变片一起构成1/4电桥;(3)将静态程控应变仪的输出调零,并将其作为微应变的初始值;(4)将一定层数的薄膜层从金属化膜电容器剥离,并记录静态程控应变仪5的输出值作为当前的微应变ε<sub>1</sub>;(5)重复以上步骤(4),直到所有薄膜层均从金属化膜电容器剥离完毕为止,并记录下每一次剥离过程中静态程控应变仪5的输出值ε<sub>2</sub>,ε<sub>3</sub>,…,ε<sub>i</sub>,其中i为剥离的总次数;(6)根据获得的不同微应变ε<sub>1</sub>,ε<sub>2</sub>,…ε<sub>i</sub>计算金属化膜层对芯轴的压强P<sub>i</sub>=E·ε<sub>i</sub>,其中E为芯轴的弹性模量。
地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号