发明名称 |
一种测量熔融状态下绝缘层的红外吸收率与透射率的装置及方法 |
摘要 |
一种测量熔融状态下绝缘层的红外吸收率与透射率的装置及方法,它涉及一种测量红外吸收率与透射率的装置及方法,具体涉及一种测量熔融状态下绝缘层的红外吸收率与透射率的装置及方法。本发明为了解决前没有一种装置能够测量熔融状态下绝缘层的红外吸收率与透射率的问题。本发明包括控制系统、无极灯辐照系统、试样台、遮挡机构和两个电磁阀,所述无极灯辐照系统、所述遮挡机构、试样台由上至下依次设置,试样放置在试样台上,所述遮挡机构与两个电磁阀连接,两个电磁阀均与控制系统连接。本发明属于高压电缆紫外光交联辐照生产领域。 |
申请公布号 |
CN104764710A |
申请公布日期 |
2015.07.08 |
申请号 |
CN201510205013.7 |
申请日期 |
2015.04.27 |
申请人 |
哈尔滨理工大学 |
发明人 |
陈俊岐;赵洪;孙崐 |
分类号 |
G01N21/3577(2014.01)I;G01N21/59(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/3577(2014.01)I |
代理机构 |
哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 |
代理人 |
王大为 |
主权项 |
一种测量熔融状态下绝缘层的红外吸收率与透射率的装置,其特征在于:所述一种测量熔融状态下绝缘层的红外吸收率与透射率的装置包括控制系统、无极灯辐照系统、试样台(1)、遮挡机构和两个电磁阀(2),所述无极灯辐照系统、所述遮挡机构、试样台(1)由上至下依次设置,试样放置在试样台(1)上,所述遮挡机构与两个电磁阀(2)连接,两个电磁阀(2)均与控制系统连接。 |
地址 |
150080 黑龙江省哈尔滨市南岗区学府路52号 |