发明名称 | 一种用于芯片测试的报警系统 | ||
摘要 | 本实用新型公开一种用于芯片测试的报警系统,包括单片机,以及与单片机相连的光耦隔离电路、显示电路、报警电路、指示电路、继电器控制电路、拨码开关和继续测试开关,所述用于芯片测试的报警系统串联在探针台TTL接口和测试系统主机TTL接口之间,探针台将相关的动作信号通过光耦隔离电路隔离后输入到单片机,单片机判断为“FAIL”信号还是“PASS”并通过显示电路进行显示。本实用新型所述的用于芯片测试的报警系统,实现了EG2001X TTL通信接口测后打点连续废报警功能,弥补了测试过程质量的监控不足,降低了测试的误测率,降低了芯片扎伤,探针撞坏率。而且整个报警系统结构简单,操作方便,成本低。 | ||
申请公布号 | CN204462322U | 申请公布日期 | 2015.07.08 |
申请号 | CN201520041407.9 | 申请日期 | 2015.01.21 |
申请人 | 华越微电子有限公司 | 发明人 | 陆海;朱纪伟;姜方友 |
分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 | 绍兴市越兴专利事务所 33220 | 代理人 | 蒋卫东 |
主权项 | 一种用于芯片测试的报警系统,其特征在于:包括单片机,以及与单片机相连的光耦隔离电路、显示电路、报警电路、指示电路、继电器控制电路、拨码开关和继续测试开关,所述用于芯片测试的报警系统串联在探针台TTL接口和测试系统主机TTL接口之间,探针台将相关的动作信号通过光耦隔离电路隔离后输入到单片机,单片机判断为“FAIL”信号还是“PASS”并通过显示电路进行显示。 | ||
地址 | 312000 浙江省绍兴市环城西路天光桥3号 |