发明名称 一种显微角分辨光谱测量装置
摘要 本发明涉及一种显微角分辨光谱测量装置,利用傅立叶变换器件,至少包括一个带有照明系统的显微镜、一根光纤,一个精密平移针孔和一个光谱仪,角分辨光谱测量由下述部件实现:将所述的显微镜的物镜当作一种傅里叶变换器件,形成光的角度和焦平面上空间位置的对应关系,光谱仪通过光纤连接至物镜焦平面上的针孔处,通过移动针孔的位置,获得不同角度的光谱信息;采用共焦照明系统对样品进行照明,或者,在图像平面上利用图像针孔进行空间滤波,或者,采用共焦照明系统和在图像平面上利用图像针孔进行空间滤波,获得样品上微米或纳米尺度区域的光谱信息。本发明可应用于微纳光学领域如光子晶体、薄膜材料、LED等的显微角分辨光谱检测。
申请公布号 CN103234633B 申请公布日期 2015.07.08
申请号 CN201310114735.2 申请日期 2013.04.03
申请人 上海复享仪器设备有限公司 发明人 许春;殷海玮;章炜毅
分类号 G01J3/28(2006.01)I 主分类号 G01J3/28(2006.01)I
代理机构 上海东亚专利商标代理有限公司 31208 代理人 董梅
主权项 一种显微角分辨光谱测量装置,利用傅立叶变换器件,至少包括一个带有照明系统的显微镜(1)、一根光纤(2),一个精密平移针孔(3)和一个光谱仪(4),进行角分辨光谱测量和显微光谱测量,其特征在于:角分辨光谱测量由下述部件实现:将所述的显微镜的物镜(10)当作一种傅里叶变换器件,将样品(9)表面发出的不同角度的光成像到物镜后端的第一焦平面(11)的不同位置处,形成光角度和焦平面上空间位置的对应关系,通过消色差的成像透镜组(13)将第一焦平面(11)成像至远离物镜的第二焦平面(14)处,在第二焦平面(14)上加载一个精密平移针孔(3),光谱仪(4)通过光纤(2)连接至针孔处,通过移动针孔的位置,获得不同角度的光谱信息;显微光谱测量通过以下部件实现:采用共焦照明系统(5)对样品(9)进行照明以获得显微光谱;或者,采用共焦照明系统(5)和在图像平面二(16)上利用图像针孔进行空间滤波获得显微光谱,其中,所述的共焦照明系统(5)包括一个激光光源(6),一个透镜(7)和一个光源针孔(8),所述的激光光源(6)发出的光束经过透镜(7)汇聚至光源针孔(8),成为一个点光源,所述的光源针孔(8)位于显微镜物镜的图像平面一(15)上,该图像平面一(15)是样品(9)通过显微镜的物镜(10)成像形成的光学共轭面,包含了样品(9)的全部图像信息,并和样品(9)具有点与点的对应关系,所述图像平面一(15)上的点光源发出的光经过设在第一焦平面(11)与成像透镜组(13)之间的分束器(12)和显微镜的物镜(10)后,汇聚在样品(9)的对应点上,形成微米或纳米尺度的照明光斑,通过调节光源针孔(8)的大小和其在图像平面一(15)上的位置,实现对样品(9)表面不同位置处的不同大小的区域的照明,而此区域外的样品由于未被照明,不会产生干扰光进入检测光路,从而得到样品上微小区域的光谱信息,其中,所述的照明光斑的直径为:<img file="dest_path_image002.GIF" wi="87" he="13" />,其中<img file="dest_path_image004.GIF" wi="9" he="21" />为激光波长,NA为显微镜物镜的数值孔径。
地址 200433 上海市杨浦区国定东路200号3号楼302-1