| 发明名称 | 三次元结构光投影检测仪 | ||
| 摘要 | 一种光学检测领域的三次元结构光投影检测仪，包括：机架、活动设置于机架上的调焦平台以及分别设置于机架两端的相机和光源，其中：待测物体置于调焦平台上，投影仪与相机同侧设置。本装置通过加入多通道可控投影仪投射结构光到待测物体表面，摄像组件在未投射结构光时捕捉待测物体投影影响进行二维尺寸检测，而投射结构光时通过三维重构获得待测物体正对面的深度三维信息。 | ||
| 申请公布号 | CN204461371U | 申请公布日期 | 2015.07.08 |
| 申请号 | CN201520131378.5 | 申请日期 | 2015.03.09 |
| 申请人 | 上海盛相电子科技有限公司 | 发明人 | 黄先;吴笛;金韡 |
| 分类号 | G01B11/25(2006.01)I;G01B11/22(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/25(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海交达专利事务所 31201 | 代理人 | 王毓理;王锡麟 |
| 主权项 | 一种三次元结构光投影检测仪，其特征在于，包括：机架、活动设置于机架上的调焦平台以及分别设置于机架两端的相机和光源，其中：待测物体置于调焦平台上，投影仪与相机同侧设置。 | ||
| 地址 | 200120 上海市浦东新区浦东南路1085号华申大厦1109室 | ||