发明名称 一种激光双波段高反射介质膜及其制备方法
摘要 本发明涉及一种激光双波段高反射介质膜及其制备方法,属于光学器件技术领域。该高反射介质膜包括基底以及附着于基底上的光学膜系,该光学膜系由二氧化钛和二氧化硅交替叠加构成,特征结构为|(HLH)^<sup>N</sup> S|。本发明的双波段高反射介质膜的设计结构简单,选用的TiO<sub>2</sub>薄膜和SiO<sub>2</sub>薄膜材料常见,工艺容易实现。本发明的双波段高反射膜具有对两波段光高反射率的特点,对790nm~860nm波段及1500nm~1650nm波段的反射率均大于99.5%。对其它波段光的反射率较低,具有一定的滤光作用。本发明的双波段高反射膜具有对激光能量的吸收少、能量损失小,光学性能稳定,膜层牢固可靠等特点。
申请公布号 CN104765084A 申请公布日期 2015.07.08
申请号 CN201410419431.1 申请日期 2014.08.22
申请人 北京遥测技术研究所;航天长征火箭技术有限公司 发明人 刘向南;李英飞;张靓;谌明;卢满宏;于征
分类号 G02B5/08(2006.01)I;G02B1/00(2006.01)I 主分类号 G02B5/08(2006.01)I
代理机构 中国航天科技专利中心 11009 代理人 张丽娜
主权项 一种激光双波段高反射介质膜,其特征在于:该高反射介质膜包括基底以及附着于基底上的光学膜系,该光学膜系包括二氧化钛层和二氧化硅层,其特征结构为|(HLH)^<sup>N</sup> S|,其中,H表示二氧化钛层,L表示二氧化硅层,S表示基底;N表示(HLH)的周期数,7≤N≤100;每层二氧化钛层的厚度为118.9nm,每层二氧化硅层的厚度为188.3nm。
地址 100076 北京市丰台区北京市9200信箱74分箱
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