发明名称 液晶模组的修正代码判断方法
摘要 本发明公开了一种液晶模组的修正代码判断方法,包括:1、在上位机上层应用软件的缺陷代码文件夹内编辑与当前液晶模组生产线对应的液晶模组修正代码初始化文件;2、在液晶模组缺陷等级判定界面中,根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》并结合待测液晶模组的检测结果选择对应的液晶模组缺陷等级;3、在液晶模组缺陷等级判定界面中,对液晶模组修正代码初始化文件解析,从析出液晶模组缺陷等级对应的多个修正代码;4、用户根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》并结合待测液晶模组的检测结果选择待测液晶模组检测结果所对应的修正代码。本发明能减少上位机程序的代码量。
申请公布号 CN104765691A 申请公布日期 2015.07.08
申请号 CN201510197140.7 申请日期 2015.04.23
申请人 武汉精测电子技术股份有限公司 发明人 彭骞;李昂;刘荣华;雷新军;严运思;帅敏;陈凯;沈亚非
分类号 G06F11/36(2006.01)I 主分类号 G06F11/36(2006.01)I
代理机构 武汉开元知识产权代理有限公司 42104 代理人 黄行军;李满
主权项 一种液晶模组的修正代码判断方法,其特征在于,它包括如下步骤:步骤1:在上位机上层应用软件的缺陷代码文件夹内编辑与当前液晶模组生产线对应的液晶模组修正代码初始化文件,该液晶模组修正代码初始化文件的编辑过程遵循标准液晶模组修正代码初始化文件格式;步骤2:在上位机上层应用软件的液晶模组缺陷等级判定界面中,根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》并结合待测液晶模组的检测结果选择对应的液晶模组缺陷等级;步骤3:在上位机上层应用软件的液晶模组缺陷等级判定界面中,上位机上层应用软件对步骤1中生成的液晶模组修正代码初始化文件进行解析,从液晶模组修正代码初始化文件中解析出步骤2的液晶模组缺陷等级所对应的多个修正代码,并将该修正代码给用户供用户选择;步骤4:用户根据现有的《液晶模组缺陷等级判定标准》并结合待测液晶模组的检测结果在步骤3解析出的多个修正代码中选择待测液晶模组检测结果所对应的一个修正代码。
地址 430070 湖北省武汉市洪山区南湖大道53号洪山创业中心4楼