发明名称 一种基于串联闭合式磁化的活塞环剩磁探伤方法及装置
摘要 本发明涉及一种基于串联闭合式磁化的活塞环剩磁探伤方法及装置。利用单个永磁体2的N、S极与活塞环1组成环型磁回路,用最大磁能量密度实现圆周方向贯穿式磁化,脱离磁体后利用多种空间敏感尺度的磁敏检测单元4’沿圆周方向扫查工件,拾取缺陷产生的漏磁场并转化为电信号,通过信号突变判断活塞环1中是否存在缺陷。本发明通过环绕活塞环1断面的阵列磁敏检测单元4’,实现不同开口间隙以及活塞环1非规则截面中跨尺度缺陷的探伤,缺陷检出率高。本发明解决了活塞环1漏磁检测中的磁噪声和探伤的端部盲区问题,易于实现活塞环1的自动化探伤。
申请公布号 CN104764800A 申请公布日期 2015.07.08
申请号 CN201510185370.1 申请日期 2015.04.20
申请人 武汉华宇一目检测装备有限公司 发明人 胡沁宇;邓志扬;王哲;邱晨
分类号 G01N27/83(2006.01)I 主分类号 G01N27/83(2006.01)I
代理机构 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人 张大威
主权项 一种基于串联闭合式磁化的活塞环剩磁探伤方法,其特征步骤包括:第1步,利用永磁体(2)内插入活塞环(1)的开口间隙处实现串联闭合式磁化;第2步,活塞环(1)实现整周贯穿式磁化后,将永磁体(2)脱离活塞环(1)开口间隙,形成均匀剩磁(5);第3步,磁敏检测单元(4')环绕活塞环(1)端面沿圆周方向扫查,拾取缺陷信号并转化为电信号(11),信号中的突变表达缺陷的存在。
地址 430000 湖北省武汉市华中科技大学机械学院东楼C609