发明名称 | 一种离轴抛物面离轴量的测量装置及方法 | ||
摘要 | 本发明公开一种离轴抛物面离轴量的测量装置及方法,包括会聚光干涉仪、平行光干涉仪、自准平面镜,利用光直线传播的原理,将离轴抛物面镜的通光孔径几何中心和焦点,投影到自准平面镜上,并分别标记,通过测量标记间距,测量离轴抛物面镜的离轴量。本发明的优点在于:原理简单、易操作,解决了离轴抛物面离轴量的测量问题。 | ||
申请公布号 | CN104764410A | 申请公布日期 | 2015.07.08 |
申请号 | CN201510145207.2 | 申请日期 | 2015.03.31 |
申请人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明人 | 于清华;孙胜利 |
分类号 | G01B11/14(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/14(2006.01)I |
代理机构 | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人 | 郭英 |
主权项 | 一种离轴抛物面离轴量的测量装置,包括会聚光干涉仪、平行光干涉仪、自准平面镜、法兰盘和可见高吸收标记,其特征在于:所述的会聚光干涉仪发出一束汇聚光束,光束汇聚点与抛物面焦点重合,光束经离轴抛物面反射,入射自准平面镜,经自准平面镜反射原路返回会聚光干涉仪;所述法兰盘中心与抛物面焦点重合,且法兰盘盘面法线与自准平面镜法线平行;所述的平行光干涉仪放置在法兰盘非自准直平面镜的一侧,平行光干涉仪出射光束方向与自准平面镜法线平行,且光束覆盖法兰盘;所述可见高吸收标记在三座标等精密测量工具监测下,制作在离轴抛物面镜通光孔径几何中心。 | ||
地址 | 200083 上海市虹口区玉田路500号 |