PSEUDO TESTER-PER-SITE FUNCTIONALITY ON NATIVELY TESTER-PER-PIN AUTOMATIC TEST EQUIPMENT FOR SEMICONDUCTOR TEST

摘要

디바이스를 테스트하기 위한 시스템 및 방법이 제시된다. 본 발명의 실시예는 복수의 피테스트 디바이스의 테스트를 코디네이트하는 중앙 제어기뿐만 아니라 각각 앞서 언급된 복수의 피테스트 디바이스 중의 피테스트 디바이스의 적어도 하나의 입출력 핀에 커플링되도록 동작가능한 복수의 채널 회로를 사용한다. 또한, 본 발명의 실시예는 각각 중앙 제어기에 커플링되고 제어 신호를 수신하고 송신하도록 동작가능한 복수의 중간 프로세서를 포함한다. 이 중간 프로세서들은 각각 복수의 채널 회로 중 상이한 세트의 채널 회로에 커플링되고 그와 연관된 피테스트 디바이스의 테스트를 위해 복수의 중간 프로세서 중 임의의 다른 중간 프로세서와 무관한 테스트 프로그램의 자신의 인스턴스화를 실행하도록 동작가능하다.