发明名称 Halbleitervorrichtungsstruktur und Verfahren zur Herstellung derselben
摘要 Ausführungsformen eines Verfahrens zur Bildung einer Halbleitervorrichtungsstruktur werden zur Verfügung gestellt. Das Verfahren schließt die Bildung eines Gate-Stack über einem Halbleitersubstrat und Bildung einer Versiegelungsstruktur über einer Seitenwand des Gate-Stack ein. Das Verfahren schließt auch die Bildung einer Blind-Abschirmlage über dem Halbleitersubstrat, der Versiegelungsstruktur und dem Gate-Stack ein. Das Verfahren schließt weiter die Durchführung eines Ionen-Implantationsprozesses auf der Blind-Abschirmlage ein, um Source- und Drainregionen in dem Halbleitersubstrat zu bilden. Zusätzlich schließt das Verfahren ein Entfernen der Blind-Abschirmlage ein, nachdem die Source- und Drainregionen gebildet werden.
申请公布号 DE102014119124(A1) 申请公布日期 2015.07.02
申请号 DE201410119124 申请日期 2014.12.19
申请人 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING COMPANY, LTD. 发明人 CHANG, CHE-CHENG;CHANG, YUNG JUNG;CHEN, YI-JEN
分类号 H01L21/336;H01L21/283;H01L29/423;H01L29/78 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人
主权项
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