发明名称 |
Halbleitervorrichtungsstruktur und Verfahren zur Herstellung derselben |
摘要 |
Ausführungsformen eines Verfahrens zur Bildung einer Halbleitervorrichtungsstruktur werden zur Verfügung gestellt. Das Verfahren schließt die Bildung eines Gate-Stack über einem Halbleitersubstrat und Bildung einer Versiegelungsstruktur über einer Seitenwand des Gate-Stack ein. Das Verfahren schließt auch die Bildung einer Blind-Abschirmlage über dem Halbleitersubstrat, der Versiegelungsstruktur und dem Gate-Stack ein. Das Verfahren schließt weiter die Durchführung eines Ionen-Implantationsprozesses auf der Blind-Abschirmlage ein, um Source- und Drainregionen in dem Halbleitersubstrat zu bilden. Zusätzlich schließt das Verfahren ein Entfernen der Blind-Abschirmlage ein, nachdem die Source- und Drainregionen gebildet werden. |
申请公布号 |
DE102014119124(A1) |
申请公布日期 |
2015.07.02 |
申请号 |
DE201410119124 |
申请日期 |
2014.12.19 |
申请人 |
TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING COMPANY, LTD. |
发明人 |
CHANG, CHE-CHENG;CHANG, YUNG JUNG;CHEN, YI-JEN |
分类号 |
H01L21/336;H01L21/283;H01L29/423;H01L29/78 |
主分类号 |
H01L21/336 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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