发明名称 Halbleitervorrichtung mit Metallsilizidsperrbereich und Verfahren zu dessen Herstellung
摘要 Es werden Ausführungsformen und Mechanismen zur Ausbildung einer Halbleitervorrichtung zur Verfügung gestellt. Die Halbleitervorrichtung umfasst einen Gate-Stapel auf einem Halbleitersubstrat. In einigen Ausführungsformen umfasst die Halbleitervorrichtung weiterhin ein Halbleiterelement, wie zum Beispiel einen Widerstand, auf dem Halbleitersubstrat. Die Halbleitervorrichtung umfasst eine Metallsilizidschicht auf zumindest einem der folgenden Bereiche oder Stapel: Gate-Stapel, Source-Bereich und Drain-Bereich. Die Halbleitervorrichtung umfasst auch einen Sperrbereich in einem oberen Teil des Halbleiterelements. In manchen Ausführungsformen umfasst der Sperrbereich erste Dotanden und zweite Dotanden mit einem kleineren Atomradius als dem der ersten Dotanden.
申请公布号 DE102014118948(A1) 申请公布日期 2015.07.02
申请号 DE201410118948 申请日期 2014.12.18
申请人 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING COMPANY, LTD. 发明人 HUNG, I-HSIANG;SUN, WEI-DER;HAO, CHING-CHEN
分类号 H01L29/78;H01L21/336 主分类号 H01L29/78
代理机构 代理人
主权项
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