发明名称 | 记忆装置及其制备方法 | ||
摘要 | |||
申请公布号 | TWI490984 | 申请公布日期 | 2015.07.01 |
申请号 | TW102113403 | 申请日期 | 2013.04.16 |
申请人 | 南亚科技股份有限公司 | 发明人 | 林瑄智;黄仁瑞 |
分类号 | H01L21/8242;H01L27/108 | 主分类号 | H01L21/8242 |
代理机构 | 代理人 | 冯博生 台北市松山区敦化北路201号7楼 | |
主权项 | 一种记忆装置之制备方法,包含下列步骤:形成一第一层于一基材上,其中该基材包含复数线形主动区;形成一第二层于该第一层上;图案化该第二层,以形成复数线条和复数第一间隔,其中该些线条与该些线形主动区相交,该些第一间隔分隔该些线条;沈积第一间隔材料在该图案化的第二层;填充材料填充于该些第一间隔;移除该第一间隔材料,以形成复数开口;通过该些开口于该第一层上形成复数第一沟槽;加深该些第一沟槽至该基材;沈积闸极介电材料至该些加深的第一沟槽;沈积导电材料至该些加深的第一沟槽;形成一隔离结构于各该加深的第一沟槽内、在该导电材料上;移除该第二层,以露出该些隔离结构之顶部;于该些隔离结构之侧壁上形成一第二间隔材料,并界定出复数第二间隔,其中该些第二间隔将该些隔离结构成对地分隔开;透过该些第二间隔,形成复数第二沟槽;以及以绝缘材料填充该些第二沟槽。 | ||
地址 | 桃园市龟山区华亚科技园区复兴三路669号 |