发明名称 |
基于近红外高光谱图像分析的小麦硬度预测方法 |
摘要 |
本发明涉及一种基于近红外高光谱图像分析的小麦硬度预测方法,属于小麦硬度检测技术领域。该方法主要包括:自动采集麦粒的近红外高光谱图像,判别有效的麦粒目标,分割单个完整麦粒的子图像,确定麦粒的长轴方向,对整个麦粒进行数字形态学处理,得到可表征单个麦硬度的灰度子图像。针对该子图像的光谱数据,运用麦粒硬度预测软件预测出检验麦粒的具体硬度值,实现小麦硬度的自动无损检测。 |
申请公布号 |
CN104749126A |
申请公布日期 |
2015.07.01 |
申请号 |
CN201510091459.1 |
申请日期 |
2015.02.28 |
申请人 |
华北水利水电大学 |
发明人 |
张红涛;胡玉霞;胡昊;周玉;田媛;刘新宇;顾波;张恒源;刘林飞;张晓东 |
分类号 |
G01N21/3563(2014.01)I;G01N21/359(2014.01)I |
主分类号 |
G01N21/3563(2014.01)I |
代理机构 |
北京精金石专利代理事务所(普通合伙) 11470 |
代理人 |
严令耕 |
主权项 |
基于近红外高光谱图像分析的小麦硬度预测方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一:获取麦粒的近红外高光谱图像,选取麦粒轮廓比较清晰的波长下的图像进行图像处理,依据图像分割后目标的面积信息,准确判别出有效的麦粒目标,分割出单个的完整麦粒的子图像;步骤二:针对单个麦粒的灰度图像进行图像处理和分析,选取能够很好表征麦粒硬度特性的图像子区域,得到可表征单个麦粒硬度的灰度子图像;步骤三:针对可表征麦粒硬度的灰度子图像,确定出每个像素点在麦粒高光谱数据立方体中的坐标,并将这些点的光谱求平均光谱作为该麦粒的光谱曲线;步骤四:对平均光谱数据进行预处理,以选取合适的波段,并消除由于测量小麦籽粒时因麦粒颗粒不均、散射、各种噪声及物理扰动使光谱产生的差异;步骤五:输入麦粒的有效光谱曲线,运用麦粒硬度预测软件预测出检验麦粒的具体硬度值。 |
地址 |
450011 河南省郑州市北环路36号华北水利水电大学电力学院 |