发明名称 | 确定曝光范围的方法和计算机断层扫描设备 | ||
摘要 | 本发明公开了一种确定计算机断层扫描中曝光范围的方法和相关计算机断层扫描设备。本发明的一实施例提供一种确定计算机断层扫描中曝光范围的方法,包括:确定保护区范围[θ<sub>s</sub>,θ<sub>e</sub>];对于保护区范围以外([θ<sub>e</sub>-2π,θ<sub>s</sub>])的各放射起始角α<sub>0</sub>,根据关注区域,计算放射附加角δ;当α<sub>0</sub>+π+δ≤θ<sub>s</sub>时,标记δ为有效放射附加角;将曝光范围确定为[α<sub>0,min</sub>,α<sub>0,min</sub>+π+δ<sub>min</sub>],其中δ<sub>min</sub>为最小的有效放射附加角,α<sub>0,min</sub>为δ<sub>min</sub>对应的α<sub>0</sub>。通过与关注区域成像技术的结合,本发明可使CT引导的介入治疗中对医生的保护可与病人剂量的最小化获得很好的平衡。 | ||
申请公布号 | CN104739431A | 申请公布日期 | 2015.07.01 |
申请号 | CN201310751370.4 | 申请日期 | 2013.12.31 |
申请人 | 上海西门子医疗器械有限公司 | 发明人 | 张纪庄 |
分类号 | A61B6/03(2006.01)I | 主分类号 | A61B6/03(2006.01)I |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | 一种确定计算机断层扫描中曝光范围的方法,包括:确定保护区范围[θ<sub>s</sub>,θ<sub>e</sub>];对于保护区范围以外([θ<sub>e</sub>‑2π,θ<sub>s</sub>])的各放射起始角α<sub>0</sub>,根据关注区域,计算放射附加角δ;当α<sub>0</sub>+π+δ≤θ<sub>s</sub>时,标记δ为有效放射附加角;将曝光范围确定为[α<sub>0,min</sub>,α<sub>0,min</sub>+π+δ<sub>min</sub>],其中δ<sub>min</sub>为最小的有效放射附加角,α<sub>0,min</sub>为δ<sub>min</sub>对应的α<sub>0</sub>。 | ||
地址 | 201318 上海市浦东新区周祝公路278号 |