发明名称 |
无参考温度成像方法及装置 |
摘要 |
本发明公开了一种无参考温度成像方法。所述方法包括:利用磁共振成像采集组织相位图,并在相位图中设置一感兴趣区域,所述感兴趣区域对应着初始加热区域的大小及位置;通过每一帧相位图中所述感兴趣区域以外的参考区域中组织的相位,拟合得到所述感兴趣区域中组织的基准相位;根据每一帧相位图中,感兴趣区域中组织的相位以及所述基准相位,确定所述感兴趣区域中组织的温度变化。本发明还相应公开了一种无参考温度成像装置。应用本发明技术方案,能够在对组织进行磁共振温度成像时,提高测量温度变化的精确度。 |
申请公布号 |
CN104739382A |
申请公布日期 |
2015.07.01 |
申请号 |
CN201310754799.9 |
申请日期 |
2013.12.31 |
申请人 |
深圳先进技术研究院 |
发明人 |
帖长军;邹超;文剑洪;钟耀祖;刘新;郑海荣 |
分类号 |
A61B5/01(2006.01)I;A61B5/055(2006.01)I |
主分类号 |
A61B5/01(2006.01)I |
代理机构 |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人 |
吴平 |
主权项 |
一种无参考温度成像方法,其特征在于,所述方法包括:利用磁共振成像采集组织相位图,并在相位图中设置一感兴趣区域,所述感兴趣区域对应着初始加热区域的大小及位置;通过每一帧相位图中所述感兴趣区域以外的参考区域中组织的相位,拟合得到所述感兴趣区域中组织的基准相位;根据每一帧相位图中,感兴趣区域中组织的相位以及所述基准相位,确定所述感兴趣区域中组织的温度变化。 |
地址 |
518055 广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1068号 |