发明名称 |
光致抗蚀剂图案修整组合物和方法 |
摘要 |
提供了修整光致抗蚀剂图案的组合物和方法。光致抗蚀剂修整组合物包括:基体聚合物,其包括从以下通式(I)的单体形成的单元,其中:R<sub>1</sub>选自氢、氟、C<sub>1</sub>-C<sub>3</sub>烷基、和C<sub>1</sub>-C<sub>3</sub>氟烷基;R<sub>2</sub>选自C<sub>1</sub>-C<sub>15</sub>亚烃基;且R<sub>3</sub>选自C<sub>1</sub>-C<sub>3</sub>氟烷基;不含氟的芳酸;和溶剂。所述组合物和方法特别适用于半导体设备的制造。<img file="DSA0000114479080000011.GIF" wi="512" he="596" /> |
申请公布号 |
CN104749888A |
申请公布日期 |
2015.07.01 |
申请号 |
CN201410858486.2 |
申请日期 |
2014.12.30 |
申请人 |
罗门哈斯电子材料有限公司 |
发明人 |
刘骢;李承泫;K·罗威尔;G·珀勒斯;C-B·徐;W·尹;T·A·埃斯戴尔;山田晋太郎 |
分类号 |
G03F7/16(2006.01)I;G03F7/40(2006.01)I |
主分类号 |
G03F7/16(2006.01)I |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 31100 |
代理人 |
陈哲锋 |
主权项 |
一种光致抗蚀剂图案修整组合物,所述组合物包括:基体聚合物,所述基体聚合物包括从以下通式(I)的单体形成的单元:<img file="FSA0000114479100000011.GIF" wi="573" he="647" />其中:R<sub>1</sub>选自氢、氟、C<sub>1</sub>‑C<sub>3</sub>烷基、和C<sub>1</sub>‑C<sub>3</sub>氟烷基;R<sub>2</sub>选自C<sub>1</sub>‑C<sub>15</sub>亚烷基;且R<sub>3</sub>选自C<sub>1</sub>‑C<sub>3</sub>氟烷基;不含氟的芳酸;和溶剂。 |
地址 |
美国马萨诸塞州 |