发明名称 一种基于特征点的投影变形校正方法及系统
摘要 本发明涉及一种基于特征点的投影变形校正方法及系统,包括对投影幕进行精准测量,根据投影幕形状,在投影幕上标记相应数量的投影幕特征点;向投影幕投射图像,并将投影图像调整至略大于投影幕的边界;用鼠标点击投影幕上标注的投影幕特征点的位置,记录相应的映射点的位置坐标;将映射点的位置坐标与投影图像上相应位置的投影图像特征点进行比对,根据预定算法计算得到映射拟合系数;根据拟合系数实现投影图像的精细几何校正,得到校正投影图像,将校正投影图像投射到投影幕。本发明以投影幕作为校正基准,配准精度高,可以获得最大限度的观看者良好视觉范围,所述方法简便快捷,对于使用过程中的微小变形可以随时校正,保证投影质量。
申请公布号 CN104754264A 申请公布日期 2015.07.01
申请号 CN201510111898.4 申请日期 2015.03.13
申请人 中国科学院空间应用工程与技术中心 发明人 张斌;贠远;李志栋;史璐莎;田小二
分类号 H04N5/74(2006.01)I;H04N9/31(2006.01)I 主分类号 H04N5/74(2006.01)I
代理机构 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人 杨立
主权项 一种基于特征点的投影变形校正方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1,对投影幕进行精准测量,根据投影幕形状,在投影幕上标记相应数量的投影幕特征点,在投影图像的相应位置标注投影图像特征点;步骤2,将标注投影图像特征点的投影图像投向影幕,并将投影图像调整至略大于投影幕的边界;步骤3,用鼠标点击投影幕上标注的投影幕特征点的位置,从而记录相应的映射点的位置坐标,其中所述映射点为投影幕特征点在投影图像上的投影;步骤4,将映射点的位置坐标与投影图像上相应位置的投影图像特征点进行比对,根据预定算法计算得到映射拟合系数;步骤5,根据拟合系数实现投影图像的精细几何校正,得到校正投影图像,将校正投影图像投射到投影幕;步骤6,判断校正后的投影形状是否满足误差阈值,如果不满足则返回步骤3,如果满足则结束处理流程。
地址 100094 北京市海淀区邓庄南路九号