发明名称 | 使用扇出/扇入矩阵之错误捕捉随机存取记忆体支援技术 | ||
摘要 | |||
申请公布号 | TWI490874 | 申请公布日期 | 2015.07.01 |
申请号 | TW097132182 | 申请日期 | 2008.08.22 |
申请人 | 爱德万测试股份有限公司 | 发明人 | 庞堤 艾德蒙多D.L. |
分类号 | G11C29/08;G11C29/56 | 主分类号 | G11C29/08 |
代理机构 | 代理人 | 恽轶群 台北市松山区南京东路3段248号7楼;陈文郎 台北市松山区南京东路3段248号7楼 | |
主权项 | 一种由多个待测元件获得测试资料之方法,该方法包含:由一测试中之元件输出一第一测试信号用于并列输入至至少两个待测元件;将至少两个回应信号并列输入该测试中之元件,各个回应信号系由该等至少两个待测元件中之一者回应该第一测试信号而产生;储存并列接收之该等回应信号于一储存元件;由该储存元件串列输出该等回应信号。 | ||
地址 | 日本 |